Testing Digital Circuits

Worum geht's

Du lernst Grundlagen und Methoden zum Testen digitaler integrierter Schaltungen kennen. Am Ende kannst du Fehlermodelle und Testqualitäten beurteilen, Testmuster erzeugen, Maßnahmen zur Testbarkeit entwerfen (inkl. Scan-Path und BIST) sowie Speicher- und Spezialtests einschätzen.

Was du danach kannst

Unterscheidung Testing vs. Verification
Fehlermodelle, Fehlererkennung, redundante Fehler, Fehlerabdeckung
Methoden zur Testmustererzeugung (Boolean differences, D‑Algorithmus, Fault Simulation)
Analyse der Testkomplexität mittels Komplexitätstheorie
Passive Testmethoden (z. B. Ad-hoc-Maßnahmen, Scan-Path)
Aktive Testmethoden (Built-In Self-Test, BIST)
Speicherfehlermodelle und Speicher-Testalgorithmen
Kenntnis von Teststandards (z. B. IEEE 1149.1) und weiterer Themen (IDDQ, analoger Test, Fault Analysis)

Aus was das Modul besteht

VorlesungVermittlung der fachlichen Inhalte und Prinzipien
Übungen/TutorialsVertiefung und Anwendung des Vorlesungsstoffs; zu jedem Kapitel zugehörige Übung

Lehrmethode

Lehrvortrag (teacher-centered)Einführung und systematische Darstellung der Themen
Übungen/Tutorials (student-centered)Anwenden und Einüben des Gelernten; Festigung durch wiederholte Übungsblöcke

Termine

Vorlesung mit ÜbungTesting Digital Circuits2 Gruppen zur Wahl

ADi.16:45–18:15
0220, Hörsaal m. Exp.-Bühne (0502.EG.220)
15× · 13.10.–02.02.
- 13.10.
- 20.10.
- 27.10.
- 03.11.
- 10.11.
- 17.11.
- 24.11.
- 01.12.
- 08.12.
- 15.12.
- 22.12.
- 12.01.
- 19.01.
- 26.01.
- 02.02.
BDo.16:45–18:15
0220, Hörsaal m. Exp.-Bühne (0502.EG.220)
14× · 15.10.–04.02.
- 15.10.
- 22.10.
- 29.10.
- 05.11.
- 12.11.
- 19.11.
- 26.11.
- 10.12.
- 17.12.
- 07.01.
- 14.01.
- 21.01.
- 28.01.
- 04.02.

Aus dem laufenden Semester, unverbindlich. Von mehreren Gruppen besucht man eine; der Stundenplan schlägt automatisch die mit den wenigsten Überschneidungen vor.

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