Praktikum Bauelementecharakterisierung in der Mikro- und Leistungselektronik

Worum geht's

Du charakterisierst typische Halbleiterbauelemente der Mikro‑ und Leistungselektronik sowie Sensoren durch Messversuche und Simulationen. Am Ende kennst du Aufbau und Funktionsweise der untersuchten Bauelemente, kannst Messaufbauten bedienen, Messergebnisse auswerten und einfache Simulationen zur Analyse nutzen.

Was du danach kannst

Aufbau spezieller Messschaltungen verstehen
Messgeräte bedienen und deren Funktionsweise verstehen
kommerzielle Messsoftware verwenden
Sicherheitsregeln bei elektrischen Anlagen beachten
Datenblattinformationen interpretieren
Messaufgaben nach Vorgaben umsetzen
Messergebnisse auswerten, grafisch darstellen und schriftlich zusammenfassen
Verhalten von Bauelementen unter verschiedenen Betriebsbedingungen verstehen
Einfache Bauelementmodelle erstellen, Simulationen aufsetzen und Ergebnisse interpretieren

Aus was das Modul besteht

PraktikumHauptbestandteil: Durchführung mehrerer Messexperimente an separaten Messplätzen zu verschiedenen Bauelementen
SimulationErgänzend: Untersuchung von Bauelementverhalten mittels Open‑Source-Halbleiterbauelementesimulator

Lehrmethode

Praktische Versuchsdurchführung in Zweiergruppenermöglicht selbständiges Anwenden von Messmethoden und Geräten
Simulationenermöglichen Analyse der Auswirkungen technologischer Parameter und Einsicht in Bauelementprozesse
Skript, Präsentationen und Handoutsdienen zur Vorbereitung und unterstützen das selbständige Arbeiten
Tutorielle ErläuterungenErklärung von Messaufbau und Auswertung vor Ort

Solltest du schon können

Grundlagen der Physik von Halbleiter- und Mikrobauteilen
Grundlagen in Schaltungstheorie und Mess- und Sensortechnik
Vorlesung 'Bauelemente der Mikro- und Leistungselektronik' (EI70720)empfohlen
Inhalt der zur Verfügung gestellten Praktikumsunterlagen

Prüfung

PraktikumsberichtPrüfungsgesprächLaborleistung

Semesterbegleitende Laborleistung: Für jede Versuchsstation (7–8 Stationen) ist pro Praktikumsgruppe ein Bericht (ca. 3–5 Seiten) zu erstellen und abzugeben. Zusätzlich findet ein individuelles Prüfungsgespräch (ca. 30 Minuten) statt, in dem wissensbasierte Lernergebnisse mündlich geprüft werden. Die Endnote setzt sich zusammen aus: zwei Drittel Gewicht für das Prüfungsgespräch und ein Drittel Gewicht für die Dokumentation.

Literatur

Simon M. Sze - Physics of Semiconductor Devices, 2nd Edition
J. Lutz, H. Schlangenotto, U. Scheuermann, R. de Donker - Semiconductor Power Devices
S. Lindner - Power Semiconductors
S. Senturia - Microsystem Design

Termine

PraktikumPraktikum Bauelementecharakterisierung in der Mikro- und Leistungselektronik - Blockpraktikum5 Gruppen zur Wahl

ADi.09:00–17:00N2159, Elektronikpraktikum (0101.02.159)einmalig am 23.02.
BDo.09:00–17:00N2159, Elektronikpraktikum (0101.02.159)einmalig am 25.02.
CFr.09:00–17:00N2159, Elektronikpraktikum (0101.02.159)einmalig am 26.02.
DMi.09:00–17:00N2159, Elektronikpraktikum (0101.02.159)einmalig am 24.02.
EMo.09:00–17:00N2159, Elektronikpraktikum (0101.02.159)einmalig am 22.02.

Aus dem laufenden Semester, unverbindlich. Von mehreren Gruppen besucht man eine; der Stundenplan schlägt automatisch die mit den wenigsten Überschneidungen vor.

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